די דורכקוק פון ייבערפלאַך ראַפנאַס, שריט הייך און דין פילם גרעב אויף האַלב-קאָנדוקטאָר וועיפערס, פּרעציזשאַן אָפּטישע לענסעס און קאָוטאַד קאַמפּאָונאַנץ באַשטימט גלייך פּראָדוקציע ייעלד. טראַדיציאָנעל קאָנטאַקט פּראָוב סקאַנינג לייכט קראַצן דעליקאַטע סאַמפּאַלז, בשעת געוויינטלעכע אָפּטישע מעסטן ויסריכט קענען נישט צושטעלן נאַנאָ-לעוועל פּרעציזיע. ווי צו דערגרייכן ניט-דעסטרוקטיווע טעסטינג, גאָר הויך נאַנאָ אַקיעראַסי און הויך-דורכפֿלוס מאַסע פּראָדוקציע דורכקוק אין דער זעלביקער צייט?
וועוולענגט OE'ס נייער אינדוסטריעלער ווייסער ליכט אינטערפעראמעטער האט צוויי אינטערפעראמעטרי מעסטונג מאָדעס. מיט נישט-קאנטאקט דעטעקציע, דעקט עס דעם גאנצן וואָרקפלאָו פון לאַבאָראַטאָריע פאָרשונג און אַנטוויקלונג ביז אָנליין פּראָדוקציע קוואַליטעט קאָנטראָל.
צוויי-קאָר אינטערפעראָמעטרי מאָדעס פֿאַר אַלע ייבערפלאַך טאָפּאָגראַפֿיע
אנדערש ווי איין-מאָד מעסטונג דעווייסעס, אינטעגרירט דאס סיסטעם VSI (ווערטיקאַל סקאַנינג אינטערפעראָמעטרי) און PSI (פאַסע-שיפטינג אינטערפעראָמעטרי) אַלגעריטמען, און באַפרידיקט צוויי קאָר מעסטונג פאָדערונגען מיט איין מאַשין.
| פאַרגלייַך נומער | ווי-עס-איי / סי-סי | פּסי |
|---|---|---|
| הויפּט אָנווענדלעך סערפאַסיז | גראָבע ייבערפלאַכן, טרעפּ, נישט-קאָנטינויִערלעכע און קאָמפּלעקסע טאָפּאָגראַפֿיעס | אולטרא-גלאַט, קאָנטינויִערלעך און שפּיגל סערפאַסיז |
| ווערטיקאַל הייך מעסטונג קייט | ברייטע קייט; טויגעוודיק צו מעסטן טיפע גרוווז און הויכע טריט | שמאָלער קייט; נישט פּאַסיק פֿאַר אפגעזונדערטע גרויסע טריט |
| ווערטיקאַלע רעזאָלוציע | נאַנאָמעטער לעוועל; סוב-נאַנאָמעטער דערגרייכלעך מיט אָפּטימיזירטע אַלגעריטמען | העכסטע רעזאָלוציע; איבערחזרנדיקייט ביז סוב-נאַנאָמעטער אפילו סוב-אַנגסטראָם לעוועל |
| טאָלעראַנץ צו ייבערפלאַך ראַפנאַס | הויך | נידעריק |
| פאַזע אַמביגיואַטי | כּמעט קיין; אַבסאָלוטע הייך ווערט רעזולטאַט בנימצא | אונטערטעניק צו 2π פאַזע איינוויקלען טעות |
| מעסטן גיכקייט | פארלאנגט אַקסיאַל סקאַנינג, לעפיערעך פּאַמעלעך | בכלל שנעלער |
| ווייבריישאַן קעגנשטעל | סאַסעפּטאַבאַל צו ווייבריישאַן בעשאַס סקאַנינג | מולטי-פֿרэйם פֿאַזע שיפֿטינג, מער שפּירעוודיק צו ווייבריישאַן |
| טיפּישע אַפּליקאַציעס | ראַפקייט, טריט הייך, מיקראָסטרוקטורן, מאַשינד סערפאַסיז | אולטרא-גלאטע ייבערפלאַך ראַפנאַס, ייבערפלאַך פיגור און פלאַךנאַס טעסטינג |
PSI (פאַזע-שיפטינג ינטערפעראָמעטרי): ספּעציאַליזירט אין נאַנאָ-וואָג קליינע הייך פֿעיִקייטן און אולטראַ-דין פילמען, צושטעלנדיק די אולטימאַטיווע מיקראָסקאָפּישע רעזאָלוציע.
פלאַך שפּיגל
געבויגענער שפּיגל (קאָנוועקסער שפּיגל)
פאָטאָליטאָגראַפיק מוסטער מוסטער
VSI ווערטיקאַל סקאַנינג ינטערפעראָמעטרי: אָפּטימיזירט פֿאַר ווערקפּיעסעס מיט גרויסע הייך ווערייישאַנז און הויכע טריט; פול מעסטן קייט בנימצא אָן סעגמענטעד סקאַנינג.
קייַלעכדיק מיקראָ באַמפּ אַרעי אויף אַוואַנסירטע פּאַקידזשד וועיפערז
עלליפּטישע מיקראָ באַמפּ אַרעי אויף אַוואַנסירטע פּאַקידזשד וועיפערס
מיקראָלינז אַרעי
צוזאַמען מיט אַ 450–700 נאַנאָמעטער קורץ-קאָוכירענץ ווײַסער ליכט מקור, קען עס עפֿעקטיוו אונטערדריקן פֿאַרבלאָנדזשעט ליכט פֿון קייפל רעפֿלעקציעס און גיט אַ שטאַרקע אַנטי-אינטערפֿערענץ פאָרשטעלונג. אויסגעשטאַט מיט פֿיל-שיכטיקע קאָוטינגז, קען דעם אָפּטישן קאָמפּאָנענט מיט נידעריק רעפֿלעקטיוויטעט אַרויסגעבן סטאַבילע און באַזונדערע אינטערפֿערענץ סיגנאַלן, וואָס גיט עכטע און פֿאַרלעסלעכע מעסטונג רעזולטאַטן.
2. אינדוסטריע-פירנדיקע נאַנאָ-גראַד ספּעציפֿיקאַציעס, טרייסאַבאַל און סטאַביל לאַנג-טערמין דאַטן
די סיסטעם ניצט אן LED ווייסע ליכט מקור מיט א צענטראלער כוואליע לענג ביי 550 נאַנאָמעטער, אויסגעשטאַט מיט שפּיץ-מדרגה קאָר פאָרשטעלונג פּאַראַמעטערס וואָס גלייַכן גלאָבאַלע פּרעמיע סטאַנדאַרדס.
-ווערטיקאַלע רעזאָלוציע: <1 נם, איבערחזרן מעסטונג טעות: <10 נם, אמתע נאַנאָמעטער פּינקטלעכקייט
-מאַקסימום ווערטיקאַל מעסטונג קייט: 500 מיקראָמעטער, קיין ריפּיטיד ריפּאַזישאַנינג פארלאנגט פֿאַר הויך-נידעריק מיקראָסטרוקטורן.
-סקענען גיכקייט: 100 מיקראָמעטער/סעקונדע, איין פולער סקען פארענדיגט אין 10 סעקונדעס, באלאנסירנדיק פּינקטלעכקייט און דורכקוק דורכפלוס.
-קאָמפּליאַנט מיט NIST טרייסאַבאַל סטאַנדאַרדס, געבויט-אין אַוטאָ-קאַליבריישאַן אַלגערידאַם ינשורז קאָנסיסטענט טרייסאַבאַל באַטש דאַטן, טרעפן שטרענג QC סטאַנדאַרדס פֿאַר האַלב-קאָנדוקטאָר און אָפּטיש ינדאַסטריז.
| אייטעם | פּאַראַמעטער |
| מעסטן קאַפּאַציטעט | 3D ייבערפלאַך טאָפּאָגראַפֿיע, ייבערפלאַך ראַפנאַס, שריט הייך און פילם גרעב פון רעפלעקטיוו מאַטעריאַלס און אָפּטישע קאַמפּאָונאַנץ |
| דאַטן אַקוויזישאַן מאָדע | ווערטיקאַלע סקאַנינג ינטערפעראָמעטריע (VSI) + פאַזע-שיפטינג ינטערפעראָמעטריע (PSI) |
| קאַליבראַציע סיסטעם | NIST טרעיסאַבאַל סטאַנדאַרט + אויטאָמאַטיש קאַליבראַציע אַלגערידאַם |
| ווערטיקאַל מעסטן קייט | 500 מיקראָמעטער |
| פעלד פון זעאונג | 20× אָביעקטיוו: 0.87 × 0.65 מ״מ |
| קאַמעראַ פאָרשטעלונג | מאַקסימום רעזאָלוציע: 2048×2448; ראַם קורס: 74 Fps; ביט טיפקייט: 12 ביט |
| סקאַנינג גיכקייט | 100 מיקראָמעטער/סעקונדע (פּרעציציע מאָדע) |
| אָביעקטיוו לינז אָפּציעס | קאָנפיגוראַבלע 20x / 50x פֿאַרגרעסערונג אָביעקטיוון |
| אינסטאַלאַציע פּלאַן | איינגעבויטע אַקטיווע ווייבריישאַן איזאָלאַציע פּלאַטפאָרמע, האָריזאָנטאַלע און ווערטיקאַלע מאַונטינג בנימצא |
| אַלגעמיינע גרייס (L×W×H) | 120 × 80 × 65 ס״מ |
| נעץ וואָג | ≤58 ק"ג |
3. אינדוסטריעל אינטעגרירט קאַבינעט פּלאַן, קאָמפּאַטיבל מיט לאַבאָראַטאָריע און פּראָדוקציע ליניע
אָפּטימיזירט פֿאַר ביידע מאַסע פּראָדוקציע וואַרשטאַטן און וויסנשאַפטלעכע פאָרשונג לאַבאָראַטאָריעס מיט פלעקסאַבאַל ינסטאַלירונג קאַמפּאַטאַבילאַטי.
איינגעבויטע אַקטיווע ווייבריישאַן איזאָלאַציע פּלאַטפאָרמע: סטאַביל מעסטונג אונטער פאַבריק ווייבריישאַן, קיין עקסטרע ווייבריישאַן איזאָלאַציע טיש דארף.
צווייפאַכיקע מאַונטינג סטרוקטור: האָריזאָנטאַלע אָדער ווערטיקאַלע סעטאַפּ, גרינגע אינטעגראַציע מיט אָטאַמייטיד פּראָדוקציע ליניעס און לאַבאָראַטאָריע וואָרקסטיישאַנז.
קאָמפּאַקט אַלץ-אין-איין קערפּער: קליינער פֿוסדרוק מיט דימענסיע 120×80×65 ס״מ, וואָג ≤58 ק״ג, פּשוט אויפֿן אָרט אויסשטעלן.
די גאַנצע סיסטעם אינטעגרירט ליכט מקור, אינטערפֿעראָמעטער הויפּט אַפּאַראַט און קאָנטראָל מאָדול. פּלאַג-און-פּלייַ נאָך אויספּאַקן, קיין קאָמפּליצירט אָפּטיש דרך אַדזשאַסטמאַנט איז נישט נויטיק.
ברייטע אַפּליקאַציע קאַווערידזש פֿאַר הויך-פּרעציציע מאַנופאַקטורינג
האַלב-קאָנדוקטאָר אינדוסטריע: 3D טאָפּאָגראַפֿיע און שריט הייך דורכקוק פֿון סיליקאָן וועיפֿערס און מיקראָ-נאַנאָ טשיפּס.
פּרעציזיע אָפּטיק: ראַפנאַס און פילם גרעב טעסטינג פֿאַר אָפּטישע לענסעס, אָביעקטיוון און קאָוטאַד אָפּטישע עלעמענטן.
נייע פונקציאָנעלע קאָוטינגז: ייבערפלאַך פּראָפיל און גרעב אַנאַליז פון רעפלעקטיוו קאָוטינגז און פונקציאָנעלע דין פילמען.
וויסנשאפטלעכע פארשונג לאַבאָראַטאָריעס: מיקראָ-נאַנאָ סטרוקטור כאַראַקטעריזאַציע און פּרעציזיע קאָמפּאָנענט מאָרפאָלאָגיע טעסטינג.
מיט יאָרן פון פּראָפעסיאָנעלער דערפאַרונג אין אָפּטישער פאָרשונג און אַנטוויקלונג, אַנטוויקלט Wavelength OE זעלבשטענדיק אַלע קערן אָפּטישע פּאַטס און מעסטונג אַלגעריטמען פֿאַר ווייסע ליכט ינטערפעראָמעטערס. פולע טעכנישע קאָנטראָל פון ליכט קוועלער, אָביעקטיוו לענסעס ביז קאַליבראַציע סיסטעמען. יעדע אַפּאַראַט גייט דורך מולטי-קייַלעכיק פּרעציזיע קאַליבראַציע איידער עקספּרעס. מיר צושטעלן פולע נאָך-פאַרקויף טעכנישע שטיצע און קאַסטאַמייז עקסקלוסיווע מעסטונג סאַלושאַנז באזירט אויף קונה ווערקפּיס גרייס און אָטאַמאַטיש פּראָדוקציע ליניע רעקווירעמענץ.
פּאָסט צייט: 15טן יולי 2026